在艺术技术领域,成像技术属于非侵入性分析程序,即与需要移除材料样本的分析程序不同,成像技术能够对艺术品进行无损检测。
这些成像方法利用不同波长(从X射线到近红外范围)的辐射及其与艺术品材料的特定穿透和相互作用。这使得肉眼不可见的材料结构或差异得以可视化。
标准技术包括特殊摄影技术,例如侧光摄影或多光谱摄影。其他经典技术,特别是在绘画检测领域,包括射线照相术、红外反射成像 (IRR),以及结合了成像和材料分析的宏观X射线荧光扫描(RFA成像)。
光谱学是另一种无损分析方法。
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